رییس پارک علم و فناوری دانشگاه تحصیلات تکمیلی علوم‌پایه زنجان روز چهارشنبه در این باره به خبرنگار ایرنا گفت: دستگاه سطح‌سنج سه‌بعدی نانومتری نوری ساخته شده توسط شرکت دانش‌بنیان فتح نور میهن، نمونه‌ای بسیار توسعه‌یافته از ابزارهای اندازه‌گیری سه‌بعدی در مقیاس نانو بر پایه اپتیک است.
مجتبی شهیدی افزود: این دستگاه براساس پدیده تداخل و در دو مد تداخل‌سنجی میکروسکوپی نورسفید و تداخل‌سنجی جابجایی فاز عمل کرده و شکل و ناصافی سطوح را با دقت نانومتر اندازه‌گیری می‌کند.
وی ادامه داد: از آن‌جایی که دستگاه سطح‌سنج سه‌بعدی نانومتری بر اساس نور کار می‌کند، روشی غیرتماسی، غیرمخرب و دقیق است و در مقایسه با دستگاه‌های با کاربری مشابه از هزینه کمتری برخوردار است.
شهیدی با بیان اینکه سرعت بالا، دقت و تکرارپذیری نانومتری از دیگر ویژگی‌های این محصول است، گفت: خروجی این دستگاه، ابر نقاط (رویه‌ی سه‌بعدی) از نمونه مورد آزمون، پارامتراهای سطح (شکل، میزان موج‌دار بودن و زبری) با دقت نانومتری است.
وی با بیان اینکه تعیین پارامترهای سطوح در بخش‌های متنوعی از علوم و صنایع نیاز است، اظهار داشت: به عنوان مثال علوم مکانیک، زیست‌شناسی، فیزیک و میکروالکترونیک نیاز مبرمی به این دستگاه برای تصویربرداری سه‌بعدی از نمونه‌های خود دارند، همچنین این دستگاه در صنایعی مانند متالورژی، مکانیک و صنایع تولید هواپیما، خودرو و توربین‌های بخار که بررسی خوردگی و ترک در قطعات آن‌ها از اهمیت ویژه ای برخوردار است، کاربرد دارد.
رییس پارک علم و فناوری دانشگاه تحصیلات تکمیلی علوم‌پایه زنجان گفت: با توجه به سطح بالای فناوری مورد استفاده، این دستگاه در کشورهای معدودی از جمله آمریکا و آلمان تولید و به بازار عرضه می‌شود. دستگاه ساخته شده در شرکت دانش‌بنیان فتح نور میهن، کامل‌ترین و دقیق‌ترین دستگاه از نوع خود در داخل کشور و منطقه است و از کیفیت و قیمت بسیار رقابتی در مقایسه با نمونه‌های مشابه خارجی برخوردار است.
وی افزود: همچنین مزیت رقابتی دستگاه سطح‌سنج نانومتری نوری ساخت شرکت دانش‌بنیان فتح نور میهن را نسبت به دیگر دستگاه‌ها مانند AFM و انواع میکروسکوپ‌های روبشی تماسی که شامل غیرتماسی و غیرمخرب بودن، تعیین رویه سه‌بعدی نمونه به صورت یک‌جا، تعیین سه‌بعدی عوارضی مانند شکستگی‌ها، پله‌ها و تغییرات تند ارتفاعی در نمونه، تعیین دینامیک سه‌بعدی نمونه‌ها، سرعت داده‌برداری بالا نسبت به دیگر محصولات مشابه، تعیین شکل، موج‌دار بودن و زبری سطح نمونه با دقت نانومتری و قابلیت داده‌برداری از نمونه در حالت بازتابی حتی از نمونه‌های با بازتابندگی کم را می‌توان خلاصه کرد.
گفتنی است ابزارهای اندازه‌گیری در مقیاس نانو به طور کلی بر ۲ پایه الکترونیک و اپتیک طراحی و ساخته می‌شوند. از میان میکروسکوپ‌هایی که بر پایه الکترونیک طراحی شده‌اند، می‌توان به میکروسکوپ نیروی اتمی (AFM) و میکروسکوپ روبشی اشاره کرد که علی‌رغم ویژگی‌هایی که دارند با مشکلات تخریب‌کنندگی، سرعت پایین، وسعت دید پایین و هزینه بالا مواجه هستند. در مقابل، فناوری اندازه‌گیری بر پایه اپتیک ویژگی‌های سرعت بالا، وسعت دید و دقت بالا را به طور همزمان دارد. همچنین این روش کاملاً غیرمخرب بوده، هیچ آسیبی به قطعه مورد اندازه‌گیری وارد نمی‌کند و می‌تواند تغییرات ارتفاعی تند را نیز اندازه‌گیری کند.
